Verordnung des Bundesministers für wirtschaftliche Angelegenheiten über die Bewilligungspflicht der Ausfuhr sowie die Überlassung oder die Vermittlung von Waren im Zollausland

Typ Verordnung
Veröffentlichung 1993-01-01
Letzte Aktualisierung 1900-01-01
Status Aufgehoben · 1995-03-09
Ministerium BKA (Bundeskanzleramt)
Quelle RIS
Artikel 8
Änderungshistorie JSON API

Fertigungsausrüstung zum

Sputtern, ausgelegt für

Stromdichten von 0,1 nA/mm2 oder

höher bei einer

Sedimentationsrate von

15 mym/Stunde oder mehr;

```

f)

Speicherprogrammierbare

```

Fertigungsausrüstung zur

Lichtbogensedimentation mit

eingebautem Gitter aus

Elektromagneten zum Steuern des

Brennpunktes auf der Kathode;

```

g)

Speicherprogrammierbare

```

Fertigungsausrüstung zum

Ionenbeschichten, die eine

In-situ-Messung folgender

Parameter ermöglichen:

```

1.

Schichtdicke auf dem Substrat

```

und Wachstumsregelung; oder

```

2.

optische Eigenschaften.

```

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 2B05.g erfaßt keine

Standard-

Ionenbeschichtungsausrüstungen für

Fräs- oder Schneidwerkzeuge.

```

```

2B06 Koordinaten-Meßmaschinen oder

Meßsysteme oder Ausrüstungen wie

folgt:

```

a)

Computergesteuerte, numerisch

```

gesteuerte oder

speicherprogrammierbare

Koordinaten-Meßmaschinen, die

beide der folgenden Merkmale

aufweisen:

```

1.

zwei oder mehr Achsen, und

```

```

2.

eine eindimensionale

```

Längen-Messungenauigkeit

gleich oder weniger (besser)

als (1,25 + L/1 000) mym,

geprüft mit einem Prüfling mit

einer Genauigkeit von weniger

(besser) als 0,2 mym (L ist

die gemessene Länge in mm);

```

b)

Linear- und

```

Winkel-Meßinstrumente wie folgt:

```

1.

Linearmeßinstrumente mit einer

```

der folgenden Eigenschaften:

```

a)

Berührungslose Meßsysteme

```

mit einer Auflösung gleich

oder weniger (besser) als

0,2 mym innerhalb eines

Meßbereiches bis zu 0,2 mm;

```

b)

Linear-Spannungs-Differenz-

```

Transformatoren mit beiden

der folgenden Merkmale:

```

1.

Linearität gleich oder

```

kleiner (besser) als 0,1%

innerhalb eines

Meßbereichs bis zu 5 mm,

und

```

2.

Drift gleich oder kleiner

```

(besser) als 0,1%/Tag bei

einer Standard-Prüfraum-

Umgebungstemperatur +-1 K;

oder

```

c)

Meßsysteme mit beiden der

```

folgenden Merkmale:

```

1.

ausgestattet mit einem

```

Laser, und

```

2.

die mindestens 12 Stunden

```

lang über einen

Temperaturbereich von

+-1 K um eine

Standardtemperatur und bei

einem Standarddruck

folgendes beibehalten:

```

a)

eine Auflösung über

```

ihren gesamten Meßbereich

von 0,1 mym oder weniger

(besser), und

```

b)

eine Meßungenauigkeit

```

gleich oder weniger

(besser) als (0,2 +

L/2 000) mym (L ist die

gemessene Länge in mm);

```

2.

Winkelmeßinstrumente mit einer

```

Winkelpositionsabweichung

gleich oder weniger (besser)

als 0,00025 Grad;

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 2B06.b.2 erfaßt nicht

optische Instrumente, wie zB

Autokollimatoren, die parallel

gerichtetes Licht zum Erkennen von

Winkelfehlern eines Spiegels

verwenden.

```

```

```

c)

Systeme zur simultanen

```

Linear-Winkel-Kontrolle von

Halbschalen, die beide der

folgenden Merkmale aufweisen:

```

1.

Meßungenauigkeit entlang einer

```

linearen Achse gleich oder

kleiner (besser) als 3,5 mym

je 5 mm; und

```

2.

Winkelpositionsabweichung

```

gleich oder kleiner (besser)

als 0,02 Grad;

```

d)

Ausrüstungen zur Messung von

```

Oberflächenfehlern, die die

optische Streuung als eine

Winkelfunktion mit einer

Empfindlichkeit von 0,5 nm oder

weniger (besser) messen.

```

```

ANMERKUNGEN:

```

1.

Werkzeugmaschinen, die als

```

Meßmaschinen verwendet werden

können, sind dann erfaßt, wenn

sie den für die

Werkzeugmaschinenfunktion oder

die Meßmaschinenfunktion

spezifizierten Kriterien

entsprechen oder diese

überschreiten.

```

2.

Eine in Nummer 2B06 beschriebene

```

Maschine ist dann erfaßt, wenn

die Grenzwerte an irgendeinem

Punkt innerhalb des

Betriebsbereiches überschritten

werden.

```

3.

Der zur Bestimmung der

```

Meßungenauigkeit verwendete

Meßtaster einer

Koordinaten-Meßmaschine ist

definiert in VDI/VDE 2617,

Teile 2, 3 und 4 (teilweise

ÖNORM M 1384).

```

4.

Alle Meßwerte in Nummer 2B06

```

stellen zulässige positive und

negative Abweichungen vom

Sollwert dar, dh. sind nicht das

Gesamtband.

```

```

2B07 Roboter wie folgt und

speziell konstruierte

Steuerungen und Endeffektoren:

```

a)

geeignet, in Echtzeit eine

```

vollständige dreidimensionale

Bildverarbeitung oder

vollständige dreidimensionale

Szenenanalyse durchzuführen, um

damit Programme zu erzeugen oder

abzuändern oder um numerische

Programmdaten zu erzeugen oder

abzuändern;

```

```

ANMERKUNG:

Die Beschränkung bezüglich

Szenenanalyse beinhaltet nicht die

Annäherung an die dritte Dimension

durch Bearbeitung unter einem

gegebenen Winkel oder begrenzte

Grauskalainterpretation zur

Wahrnehmung von Tiefe oder Struktur

(2 1/2 D).

```

```

```

b)

speziell konstruiert gemäß

```

nationaler Sicherheitsnormen,

für explosionsgefährdete

Umgebungen; oder

```

c)

speziell konstruiert oder

```

zugelassen als strahlungsfest

über das Maß hinaus, das zum

Bestand gegen normale

industrielle ionisierende

Strahlung notwendig ist (dh.

nicht für die

Nuklear-Industrie).

2B08 Baugruppen oder Bestandteile,

speziell konstruiert für

Werkzeugmaschinen oder für in

Nummern 2B06 oder 2B07 erfaßte

Ausrüstungen:

```

a)

Spindelbaugruppen, bestehend aus

```

Spindeln und Lagern als

Mindestbaugruppe, mit

Rundlaufabweichung oder

Planlaufabweichung in einer

Umdrehung der Spindel von

weniger (besser) als 0,0006 mm

Gesamtmeßuhrausschlag;

```

b)

Linearpositions-

```

Rückmeldeeinheiten, zB induktive

Geber, Meßskalen,

Infrarotsysteme oder

Lasersysteme, die eine

Gesamtgenauigkeit von weniger

(besser) als (800 + (600 x L x

10 hoch -3)) nm aufweisen (L

entspricht der tatsächlichen

Länge in mm);

```

c)

Winkelpositions-

```

Rückmeldeeinheiten, zB induktive

Geber, Meßskalen,

Infrarotsysteme oder

Lasersysteme, die eine

Genauigkeit von weniger (besser)

als 0,00025 Grad aufweisen;

```

d)

Schlittenbaugruppen bestehend

```

aus mindestens Führung, Bett und

Schlitten, die alle der

folgenden Merkmale aufweisen:

```

1.

Scher-, Rollkreis- und

```

Rollwinkel weniger (besser)

als 2 Bogensekunden TIR

(Ablesung über den gesamten

Meßbereich) über vollen Weg

(Referenz: ISO/DIS 230-1 = DIN

8601);

```

2.

eine horizontale

```

Geradlinigkeit von weniger

(besser) als 2 mym je 300 mm

Länge, und

```

3.

eine vertikale Geradlinigkeit

```

von weniger (besser) als 2 mym

je 300 mm Länge;

```

e)

Einpunkt-

```

Diamantenschneidemaschinen-

Einsätze, die sämtliche folgende

Merkmale aufweisen:

```

1.

makellose und spanfreie

```

Schneideenden, wenn 400fach in

jede beliebige Richtung

vergrößert;

```

2.

Schneideradius von 0,1 bis

```

einschließlich 5 mm; und

```

3.

Schneideradius-

```

Rundlaufabweichung weniger

(besser) als 0,002 mm

Gesamtmeßuhrausschlag.

2B09 Speziell konstruierte

bestückte Leiterplatten und

Software hierfür oder

Verbund-Drehtische, die gemäß

den Hersteller-Spezifikationen

geeignet sind, numerische

Steuerungen, Werkzeugmaschinen

oder Rückmeldeeinrichtungen auf

oder über die in Nummer 2B01,

2B02, 2B03, 2B04, 2B05, 2B06,

2B07 und 2B08 spezifizierten

Werte aufzurüsten.

2R03 Vibrationstestausrüstung mit

Verwendung von digitalen

Steuerungsverfahren und

Rückkopplungs- oder

Closed-Loop-Testausrüstung

hierfür, geeignet für die

Vibrationsbeanspruchung eines

Systems mit 10 g RMS oder mehr

zwischen 20 Hz und 2 000 Hz und

der Aufbringung von Kräften von

50 kN (11 250 Pfund) oder mehr;

2N07 Rotormontage- und

Rotorrichtausrüstung sowie

Dorne zur Sickenformung und

Matrizen hierfür, wie folgt:

```

a)

Rotormontageausrüstung für

```

den Zusammenbau von

Gaszentrifugenteilrohren,

Scheiben und Enddeckeln.

Diese Ausrüstung schließt

Präzisionsdorne,

Haltevorrichtungen und

Einschrumpfvorrichtungen

ein;

```

b)

Rotorrichtausrüstung zum

```

Richten von

Zentrifugenteilrohren auf

eine gemeinsame Achse;

```

```

ANMERKUNG:

Diese Ausrüstung besteht

üblicherweise aus

Präzisionsmeßsonden, die mit einem

Computer verbunden sind, der die

Funktion, zB der Backen zum

Richten der Rotorteile, steuert.

```

```

```

c)

Dorne zur Sickenformung und

```

Matrizen zur Herstellung von

Einfachsicken (Sicken aus

hochfesten

Aluminiumlegierungen,

martensitaushärtendem Stahl

oder hochfesten

Fadenmaterialien).

Die Sicken haben folgende

Abmessungen:

```

1.

Innendurchmesser

```

zwischen 75 mm und

400 mm,

```

2.

Länge größer/gleich

```

12,7 mm und

```

3.

Sickenhöhe größer als

```

2 mm.

2N08 Rotierende

Mehrebenenauswuchtmaschinen,

horizontal oder vertikal, wie

folgt:

```

a)

konstruiert zum Auswuchten

```

von flexiblen Rotoren mit

einer Länge größer/gleich

600 mm, mit allen folgenden

Merkmalen:

```

1.

Rotor- oder

```

Zapfen-Durchmesser

größer/gleich 75 mm,

```

2.

Tragfähigkeit von 0,9 bis

```

23 kg und

```

3.

nutzbare Auswuchtdrehzahl

```

größer als 5 000 U/min;

```

b)

konstruiert zum Auswuchten

```

von hohlzylindrischen

Rotorbauteilen, mit allen

folgenden Merkmalen:

```

1.

Aufnahme-Durchmesser

```

größer/gleich 75 mm,

```

2.

Tragfähigkeit von 0,9 bis

```

23 kg,

```

3.

Eignung zum Auswuchten

```

für eine Restunwucht

kleiner(besser)/gleich

0,01 kgmm/kg pro

Auswuchtebene und

```

4.

Riemenantriebsausführung.

```

2N09 Druckmeßgeräte mit allen

folgenden Eigenschaften:

```

a)

für Drücke bis zu 13 kPa,

```

```

b)

Genauigkeit kleiner (besser)

```

als 1% vom Skalenendwert,

```

c)

mit korrosionsfesten

```

Drucksensoren aus Nickel,

Nickellegierungen,

Phosphorbronze, rostfreiem

Stahl, Aluminium oder

Aluminiumlegierungen.

2N10 Vakuumpumpen mit einem

Ansaugdurchmesser größer/gleich

380 mm mit einer Fördermenge

größer/gleich 15 000 l/s und einem

Endvakuumdruck kleiner (besser)

als 10 hoch -4 Torr (0,76 x 10

hoch -4 mbar).

```

```

TECHNISCHE ANMERKUNG:

Der Endvakuumdruck wird bei

geschlossener Saugseite der Pumpe

bestimmt.

```

```

2N11 Mehrkammer-Leichtgaskanonen

oder andere

Hochgeschwindigkeitsbeschleuni-

gungssysteme (gewickelt,

elektromagnetisch,

elektrothermisch oder andere

fortgeschrittene Systeme) zur

Beschleunigung von Projektilen auf

Geschwindigkeiten größer/gleich 2

km/s.

2N12 siehe Nummer 2R03.

2N13 Vakuum- und

Schutzgasschmelz- und Gießöfen für

die Metallurgie wie folgt, und

speziell konfigurierte

Computerkontroll- und

Beobachtungssysteme und speziell

entwickelte Software hierfür:

```

a)

Lichtbogenumschmelz- und

```

Gießereiöfen mit

Elektrodenkapazitäten

zwischen 1 000 cm3 und

20 000 cm3 und für

Schmelztemperaturen über

1 700 Grad C;

```

b)

Elektronenstrahlschmelz- und

```

Plasmaatomisier- und

Schmelzöfen mit einer

Leistung von 50 kW und mehr

und für einen Betrieb bei

Schmelztemperaturen von mehr

als 1 200 Grad C.

D. SOFTWARE

2D01 Software, speziell

konstruiert oder abgeändert zur Entwicklung, Fertigung oder

Verwendung von in Nummern 2A01,

2A02, 2A03, 2A04, 2A05, 2A06,

2B01, 2B02, 2B03, 2B04, 2B05,

2B06, 2B07, 2B08 oder 2B09

erfaßten Geräten.

2D02 Spezielle Software:

a)

Software zur adaptiven Steuerung

1.

für flexible

2.

geeignet, in Echtzeit

a)

automatische Bilderfassung

b)

Infrarotabbildung;

c)

Schallabbildung (hörbarer Bereich);

d)

Tastmessung;

e)

Trägheitspositionierung;

f)

Kraftmessung;

g)

Drehmomentmessung;


ANMERKUNG:

Nummer 2D02.a erfaßt keine

Software, die nur eine Umstrukturierung von funktionell

gleicher Ausrüstung innerhalb der

flexiblen Fertigungseinheiten

bewirkt und vorgespeicherte

Teileprogramme sowie eine

vorgespeicherte Strategie für die Verteilung der Teileprogramme

verwendet.


b)

Software, die anderen als in Nummer 2B01.a/b erfaßten

E. TECHNOLOGIE

2E01 Technologie gemäß der

„General Technology Note''

(Allgemeine Technologienote) zur Entwicklung von Ausrüstungen

oder Software, die in den Nummern 2A01, 2A02, 2A03, 2A04,

2A05, 2A06, 2B01, 2B02, 2B03,

2B04, 2B05, 2B06, 2B07, 2B08,

2B09, 2D01 oder 2D02 erfaßt

sind.

2E02 Technologie gemäß der

„General Technology Note''

(Allgemeine Technologienote) zur Fertigung von Ausrüstungen, die

in den Nummern 2A01, 2A02, 2A03,

2A04, 2A05, 2A06, 2B01, 2B02,

2B03, 2B04, 2B05, 2B06, 2B07,

2B08, 2B09, 2D01 oder 2D02

erfaßt sind.

2E03 Andere Technologie:

a)

Technologie:

1.

Zur Entwicklung von

2.

Zur Entwicklung von

3.

Zur Entwicklung von

b)

Technologie für

1.

Technologie zur Konstruktion

a)

Superplastische Verformung;

b)

Diffusions-Schweißen;

c)

Direktes hydraulisches

2.

Technische Daten, bestehend

a)

Superplastische Verformung

1.

Oberflächenvorbereitung;

2.

Umformungsgeschwindigkeit;

3.

Temperatur;

4.

Druck;

b)

Diffusions-Schweißen von

1.

Oberflächenvorbereitung;

2.

Temperatur;

3.

Druck;

c)

direktwirkendes

1.

Druck;

2.

Zyklusdauer;

d)

heißisostatische Verdichtung

1.

Temperatur;

2.

Druck;

3.

Zyklusdauer;

c)

Technologie zur Entwicklung oder


ANMERKUNGEN:

1.

Der Ausdruck

2.

Der Ausdruck „legierte

3.

Der Ausdruck

4.

Mischungen bestehen aus

5.

MCrAlX bezieht sich auf eine Beschichtungslegierung, wobei

a)

CoCrAlY-Beschichtungen, die

b)

CoCrAlY-Beschichtungen, die 22

c)

NiCrAlY-Beschichtungen, die 21

6.

Der Ausdruck

7.

Der Ausdruck „korrosionfester

8.

Hochschmelzende Metalle bestehen

9.

Sensorfenstermaterialien wie

10.

Technologie zur Einschritt-Packungszementierung

11.

Polymere wie folgt: Polyimide,

12.

Modifizierte Zirkonerde bezieht

13.

Titanlegierungen bezieht sich

14.

Niedrigexpansionsgläser bezieht

15.

Dielektrische Schichten sind

16.

Zementiertes Wolframcarbid

a)

CVD-Verfahren (Chemical Vapour Deposition) ist ein Belagsbeschichtungsverfahren

1.

CVD beinhaltet folgende

2.

Pack (Packung) bezeichnet ein in

3.

Die Herstellung der gasförmigen

b)

TE-PVD-Verfahren (Thermal

1.

Elektronenstrahl-PVD verwendet

2.

Resistive Erhitzungs-PVD setzt

3.

Laser-Verdampfung verwendet

4.

Kathodenbogen-Sedimentation

c)

Ionplating ist eine spezielle

d)

Packungszementierung ist ein oberflächenveränderndes

1.

den metallischen Pulvern, die

2.

einem Aktivator (normalerweise ein Halidsalz); und

3.

einem inerten Pulver, meist

e)

Plasmaspritzen ist ein Belagsbeschichtungsverfahren,

1.

Niederdruck bedeutet einen Druck

2.

Hochgeschwindigkeit bezieht sich

f)

Schlammsedimentation ist ein oberflächenveränderndes

g)

Sputtersedimentation ist ein Belagsbeschichtungsverfahren,

1.

Die Tabelle bezieht sich nur auf

2.

Langsame Ionenstrahlen (weniger als 5 keV) können zur Aktivierung der Sedimentation

h)

Ionenimplantation ist ein

Sputtersedimentation erfolgt.


6 - SENSOREN

```

```

A. GERÄTE, BAUGRUPPEN UND BAUTEILE ---------------------------------

ANMERKUNG:

Die Nummern 6R01 bis 6R05

erfassen Einrichtungen, die

entwickelt sind für den

Gebrauch in Raketensystemen der

Nummer 9R01.

```

```

6A01 Akustik:

```

a)

Akustik-Systeme für die

```

Seefahrt, Geräte oder speziell

entwickelte Bauteile hierfür,

wie folgt:

```

1.

aktive (Sende- oder

```

Sende/Empfangs)Systeme und

Geräte oder speziell

entwickelte Bauteile hierfür,

wie folgt:

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 6A01.a.1 erfaßt keine

Echolote, die vertikal vom Apparat

nach unten arbeiten, keine

Abtastfunktion mit mehr als

+-10 Grad beinhalten und auf die

Messung von Wassertiefe, Entfernung

gesunkener oder auf dem Meeresgrund

begrabener Objekte, sowie auf

Fischfangzwecke beschränkt sind.

```

```

```

a)

Breitstrahl-

```

Tiefenvermessungssysteme zur

topographischen

Meeresboden-Kartographie:

```

1.

entwickelt für:

```

```

a)

die Durchführung von

```

Messungen unter einem

Winkel von mehr als

10 Grad von der

Vertikalen; und

```

b)

die Messung von Tiefen von

```

mehr als 600 m unter die

Wasseroberfläche; und

```

2.

entwickelt für:

```

```

a)

Mehrstrahleinrichtungen

```

mit Strahlen von weniger

als 2 Grad; oder

```

b)

eine Datengenauigkeit

```

besser als 0,5% der

Wassertiefe bezogen auf

Strahlbreite (Mittelwert

aus den Einzelmessungen

innerhalb der

Strahlbreite);

```

b)

Objektsuch- oder

```

Objektlokalisierungssysteme

mit einem der folgenden

Merkmale:

```

1.

einer Sendefrequenz unter

```

10 kHz;

```

2.

einem Schalldruckpegel von

```

mehr als 224 dB (Referenz

1 myPa bei 1 m) für Geräte

mit einem

Betriebsfrequenzband

zwischen 10 kHz und

einschließlich 24 kHz;

```

3.

einem Schalldruckpegel von

```

mehr als 235 dB (Referenz

1 myPa bei 1 m) für Geräte

mit einem

Betriebsfrequenzband

zwischen 24 kHz und 30 kHz;

```

4.

einer Bildung von Strahlen

```

von weniger als 1 Grad

entlang jeder Achse und mit

einer Betriebsfrequenz von

weniger als 100 kHz;

```

5.

entwickelt als

```

druckbeständig - bei

Normalbetrieb - in Tiefen

von mehr als 1 000 m und

Meßwandlern:

```

a)

mit dynamischer

```

Druckkompensation; oder

```

b)

mit Meßwandlerelementen,

```

die nicht aus

Bleizirkonat-Titanat

bestehen; oder

```

6.

entwickelt zur

```

Abstandsmessung zu Objekten

von mehr als 5 120 m;

```

c)

akustische Projektoren

```

einschließlich Meßwandlern,

mit eingebauten

piezoelektrischen,

magnetostriktiven,

elektrostriktiven,

elektrodynamischen oder

hydraulischen Elementen, die

einzeln oder in Kombination

arbeiten, mit einem der

folgenden Merkmale:

```

```

ANMERKUNG:

Der Erfassungsstatus von

akustischen Projektoren,

einschließlich Meßwandlern,

speziell entwickelt für andere

Einrichtungen ist durch den

Erfassungsstatus der anderen

Einrichtungen definiert.

```

```

```

1.

einer momentanen

```

ausgestrahlten

Schalleistungsdichte von

mehr als 0,01 mW/mm2 Hz

für Geräte mit einer

Betriebsfrequenz unter

10 kHz;

```

2.

einer kontinuierlich

```

ausgestrahlten

Schalleistungsdichte von

mehr als 0,001 mW/mm2 Hz

für Geräte mit einer

Betriebsfrequenz unter

10 kHz;

```

3.

druckbeständig bei

```

Normalbetrieb in Tiefen

von mehr als 1 000 m; oder

```

4.

mit

```

Nebenkeulenunterdrückung

von mehr als 22 dB;

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 6A01.a.1.c erfaßt weder

elektronische Quellen, die den

Schall nur vertikal richten, noch

mechanische (zB Luftdruck- oder

Dampfstoßkanonen) oder chemische

(zB explosive) Quellen.

ANMERKUNG:

Die Schalleistungsdichte wird

erhalten, indem die

Ausgangsschalleistung durch das

Produkt aus der ausstrahlenden

Oberflächenfläche und der

Betriebsfrequenz dividiert wird.

```

```

```

d)

Akustische Systeme, Geräte

```

oder speziell entwickelte

Bauteile zur Bestimmung der

Position von Schiffen oder

Unterwasser-Fahrzeugen

entwickelt:

```

1.

für einen Betrieb mit

```

einer Reichweite von mehr

als 1 000 m mit einer

Positioniergenauigkeit von

weniger als 10 m rms

(quadratisches Mittel),

gemessen bei einer

Entfernung von 1 000 m;

oder

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 6A01.a.1.d.1 schließt auch

Geräte mit ein, die eine kohärente

Signalverarbeitung zwischen zwei

oder mehr Baken und dem vom Schiff

oder Unterwasserfahrzeug getragenen

Hydrophon verwenden, oder geeignet

sind, die

(Schallgeschwindigkeitsausbrei-

tungsfehler) zur Berechnung eines

Punktes selbsttätig zu korrigieren.

```

```

```

2.

als druckfest bei Tiefen

```

von mehr als 1 000 m;

```

2.

passive Systeme oder Geräte

```

(Empfangsgeräte, unabhängig ob

bei Normalbetrieb mit dem

separaten aktiven Gerät

verbunden oder nicht) oder

speziell entwickelte Bauteile

hierfür, wie folgt:

```

a)

Hydrophone (Meßwandler) mit

```

eingebauten:

```

1.

kontinuierlichen flexiblen

```

Sensoren oder Baugruppen

aus diskreten

Sensorelementen mit

entweder einem Durchmesser

oder einer Länge von

weniger als 20 mm und mit

einer Entfernung zwischen

den Elementen von weniger

als 20 mm;

```

2.

mit einem der folgenden

```

Meßfühler:

```

a)

Lichtleitfasern;

```

```

b)

piezoelektrischen

```

Polymeren;

```

c)

flexible

```

piezoelektrische

Keramikmaterialien;

```

3.

Hydrophon-Empfindlichkeit

```

besser als -180 dB in

jeder Tiefe mit keiner

Beschleunigungskompensa-

tion;

```

4.

wenn entwickelt für einen

```

Betrieb in Tiefen von

nicht mehr als 35 m, mit

einer

Hydrophon-Empfindlichkeit

besser als -186 dB mit

Beschleunigungskompensa-

tion;

```

5.

wenn entwickelt für einen

```

Normalbetrieb in Tiefen

von mehr als 35 m, mit

einer Hydrophon-

Empfindlichkeit besser als

-192 dB mit

Beschleunigungskompensa-

tion;

```

6.

wenn entwickelt für einen

```

Normalbetrieb in Tiefen

von mehr als 100 m, mit

einer Hydrophon-

Empfindlichkeit besser als

-204 dB; oder

```

7.

entwickelt für einen

```

Betrieb in Tiefen von mehr

als 1 000 m;

```

```

ANMERKUNG:

Die Hydrophon-Empfindlichkeit

wird definiert als zwanzig mal der

Logarithmus des Verhältnisses der

rms-Ausgangsspannung zu einer 1 V

rms-Referenz, wenn der

Hydrophon-Sensor ohne Vorverstärker

in ein Hörfeld aus ebenen Wellen

mit einem rms-Druck von 1 myPa

plaziert wird. Beispiel: ein

Hydrophon mit -160 dB (Referenz 1 V

je myPa) würde eine

Ausgangsspannung von 10 hoch -8 in

einem solchen Feld ergeben, während

ein Hydrophon mit -180 dB

Empfindlichkeit einen Ausgang von

nur 10 hoch -9 ergeben würde. Daher

ist -160 dB besser als -180 dB.

```

```

```

b)

Geschleppte akustische

```

Hydrophon-Anordnungen mit:

```

1.

Hydrophongruppen mit einem

```

Abstand von weniger als

12,5 m;

```

2.

Hydrophongruppen mit einem

```

Abstand von 12,5 m bis

unter 25 m und entwickelt

oder geeignet, für einen

Betrieb in Tiefen von mehr

als 35 m abgeändert zu

werden; oder

```

```

ANMERKUNG:

Der Ausdruck „geeignet zur

Abänderung'' in Nummer 6A01.a.2.b.2

heißt, daß Möglichkeiten vorhanden

sind, durch eine Änderung der

Verdrahtung oder Verknüpfung den

Hydrophongruppen-Abstand oder die

Grenzen der Betriebstiefen

abzuändern. Solche Möglichkeiten

sind gegeben durch:

Ersatzverdrahtung von mehr als 10%

der Anzahl der Drähte,

Justierungseinrichtungen für den

Hydrophongruppen-Abstand oder

interne

Tiefenbegrenzungsvorrichtungen, die

justierbar sind oder mehr als eine

Hydrophongruppe steuern.

```

```

```

3.

Hydrophongruppen-Abstand

```

von 25 m oder mehr und

entwickelt für einen

Betrieb in Tiefen von mehr

als 100 m;

```

4.

Kurssensoren:

```

```

a)

mit einer Genauigkeit

```

besser als +-0,5 Grad;

```

b)

eingebaut in die

```

Anordnung und

entwickelt oder

geeignet zur

Abänderung für einen

Betrieb in Tiefen von

mehr als 35 m; oder

```

```

ANMERKUNG:

Der Ausdruck „geeignet zur

Abänderung'' in Nummer

6A01.a.2.b.4.b bedeutet, daß eine

justierbare oder entfernbare

Vorrichtung zur

Tiefenmeßwertrückführung vorhanden

ist.

```

```

```

c)

montiert außerhalb der

```

Anordnung und mit einer

Sensoreinheit, die fähig ist,

in einem Umkreis von 360 Grad

in Tiefen von mehr als 35 m zu

arbeiten;

```

5.

nichtmetallische

```

Bestandteile oder in der

Längsrichtung verstärkte

Anordnung;

```

6.

einer zusammengebauten

```

Anordnung von weniger als

40 mm Durchmesser;

```

7.

Multiplexe

```

Hydrophongruppen-Signale;

oder

```

8.

Hydrophon-Eigenschaften,

```

spezifiziert in

Nummer 6A01.a.2.a.;

```

c)

Bearbeitungseinrichtungen,

```

speziell entwickelt für

geschleppte

Hydrophon-Anordnungen mit

einem der folgenden

Merkmale:

```

1.

mit Fast

```

Fouriertransformation

(FFT) oder einer anderen

Transformation mit 1 024

oder mehr komplexen

Punkten in weniger als

20 ms mit keiner

benutzerzugänglichen

Programmierbarkeit; oder

```

2.

Zeit- oder

```

Frequenzbereichs-

Verarbeitung und

-korrelation,

einschließlich

Spektralanalyse, digitales

Filtern und

Strahlenformung mit Fast

Fouriertransformationen

oder anderen

Transformationen oder

Verfahren mit

benutzerzugänglicher

Programmierbarkeit;

```

b)

Geophone, geeignet zur

```

Umwandlung für einen Einsatz in

Marinesystemen, Geräte oder

speziell entwickelte Bauteile,

die in der Nummer 6A01.a.2.a

erfaßt sind;

```

c)

Korrelation-Geschwindigkeits-

```

Sonarloggeräte, entwickelt zur

Messung der horizontalen

Geschwindigkeit des

Ausrüstungsträgers relativ zum

Meeresboden bei Abständen

zwischen dem Träger und dem

Meeresboden von mehr als 500 m.

6A02 Optische Sensoren

```

a)

Optische Detektoren wie folgt: 6R01 Passive Sensoren zur

```

Ermittlung von Peilungen für

spezifische elektromagnetische

Quellen (Funkpeilgeräte) oder

Geländecharakteristiken.

-------------------------------- 6N01 Photoelektronenvervielfacher-

ANMERKUNG: röhren mit einer

Nummer 6A02.a erfaßt keine Photokathodenfläche größer als

Germanium- oder 20 cm2 und einer

Siliciumbauteile. Pulsanstiegszeit an der Anode

```

```

```

1.

raumfahrtqualifizierte

```

Einzelelemente oder

Brennebenen-Arrays (linear

oder zweidimensional) mit

einem der folgenden Merkmale:

```

a)
  1. einer

```

Spitzenempfindlichkeit bei

einer Wellenlänge kürzer

als 300 nm; und

```

2.

einer Empfindlichkeit von

```

weniger als 0,1% relativ zur

Spitzenempfindlichkeit bei

einer Wellenlänge von mehr

als 400 nm;

```

b)
  1. einer

```

Spitzenempfindlichkeit im

Wellenlängenbereich von

über 900 nm bis höchstens

1 200 nm; und

```

2.

einer Ansprechszeitkonstante

```

von 95 ns oder weniger; oder

```

c)

einer Spitzenempfindlichkeit

```

im Wellenlängenbereich von

über 1 200 nm bis höchstens

30 000 nm;

```

2.

Bildverstärkerröhren und

```

speziell entwickelte Bauteile

hierfür, wie folgt:

```

a)

Bildverstärkerröhren mit

```

allen folgenden Merkmalen:

```

1.

einer

```

Spitzenempfindlichkeit im

Wellenlängenbereich von

über 400 nm bis höchstens

1 050 nm;

```

2.

mit einer Mikrokanalplatte

```

für Elektronen-

Bildverstärkung mit einem

Lochabstand

(Zentrum-Zentrum Abstand)

von weniger als 25 mym;

und

```

a)

einer S-20-, S-25- oder

```

Multialkali-

Photokathode; oder

```

b)

einer GaAs- oder

```

GaInAs-Photokathode;

```

b)

speziell entwickelte

```

Bauteile wie folgt:

```

1.

Lichtwellenleiter-

```

Bildinverter;

```

2.

Mikrokanalplatten mit

```

beiden folgenden

Merkmalen:

```

a)

15 000 oder mehr

```

Hohlröhren/Platte; und

```

b)

einem Lochabstand

```

(Zentrum - Zentrum

Abstand) von weniger

als 25 mym; oder

```

3.

GaAs- oder

```

GaInAs-Photokathoden;

```

3.

nicht-raumfahrtqualifizierte

```

lineare oder zweidimensionale

Brennebenen-Arrays mit einem

der folgenden Merkmale:

```

a)
  1. einzelne Elemente mit

```

einer Spitzenempfindlichkeit

in einem Wellenlängenbereich

von über 900 nm bis

höchstens 1 050 nm; und

```

2.

einer

```

Ansprechzeitkonstante von

weniger als 0,5 ns;

```

b)
  1. einzelne Elemente mit

```

einer Spitzenempfindlichkeit

in einem Wellenlängenbereich

von über 1 050 nm bis

höchstens 1 200 nm; und

```

2.

einer

```

Ansprechzeitkonstante von

95 ns oder weniger; oder

```

c)

einzelne Elemente mit einer

```

Spitzenempfindlichkeit in

einem Wellenlängenbereich

von über 1 200 nm bis

höchstens 30 000 nm;

```

```

ANMERKUNGEN:

```

1.

Nummer 6A02.a.3 umfaßt auch

```

photoleitfähige Arrays und

photovoltaische Arrays.

```

2.

Nummer 6A02.a.3 erfaßt keine

```

Silicium-Brennebenen-Arrays,

gekapselte photoleitfähige

Multi-Element-Zellen (mit nicht

mehr als 16 Elementen) oder

pyroelektrische Detektoren mit

einem der folgenden Stoffe:

```

a)

Bleisulfid;

```

```

b)

Triglycinsulfat oder

```

Varianten;

```

c)

Blei-Lanthan-Zirkonium-Titanat

```

und Varianten;

```

d)

Lithiumtantalat;

```

```

e)

Polyvinylidenfluorid und

```

Varianten;

```

f)

Strontium-Barium-Niobat und

```

Varianten; oder

```

g)

Bleiselenid.

```

```

```

```

4.

nicht-raumfahrtqualifizierte

```

Einzelelemente oder

Multielement-Halbleiter-

Photodioden oder

-Phototransistoren (keine

Brennebenen-Arrays) mit beiden

folgenden Merkmalen:

```

a)

einer Spitzenempfindlichkeit

```

bei einer Wellenlänge von

mehr als 1 200 nm; und

```

b)

einer Ansprechzeitkonstante

```

von 0,5 ns oder weniger;

```

b)

Multispektral abbildende

```

Sensoren, entwickelt für

Fernabtastungszwecke, mit einem

der folgenden Merkmale:

```

1.

einem Momentan-Gesichtsfeld

```

(IFOV) von weniger als

200 myrad; oder

```

2.

spezifiziert für einen Betrieb

```

im Wellenlängenbereich von

über 400 nm bis höchstens

30 000 nm; und

```

a)

die Ausgangsbilddaten in

```

digitalem Format erzeugen;

und

```

1.

raumfahrtqualifiziert

```

sind; oder

```

2.

für einen Luftfahrtbetrieb

```

entwickelt sind und andere

Detektoren als

Siliciumdetektoren

verwenden;

```

c)

Direktsicht-

```

Bilddarstellungsgeräte, die im

sichtbaren oder

Infrarot-Spektrum arbeiten und

einen der folgenden Bestandteile

aufweisen:

```

1.

Bildverstärkerröhren, die von

```

Nummer 6A02.a.2 erfaßt sind;

oder

```

2.

Brennebenen-Arrays, die von

```

Nummer 6A02.a.3 erfaßt sind;

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 6A02.c erfaßt nicht

folgende Geräte, wenn diese andere

Photokathoden als GaAs- oder

GaInAs-Photokathoden enthalten:

```

a)

industrielle oder zivile

```

Einbruchsicherungssysteme,

Systeme zur Bewegungskontrolle

oder -zählung für Verkehr und

Industrie;

```

b)

medizinische Geräte;

```

```

c)

industrielle Geräte zur

```

Überprüfung, Sortierung oder

Analyse von

Materialeigenschaften;

```

d)

Feuermelder für Industrieöfen;

```

```

e)

speziell für Laborzwecke

```

entwickelte Geräte.

ANMERKUNG

Der Ausdruck „Direktsicht''

bezieht sich auf

Bilddarstellungsgeräte, die im

sichtbaren oder Infrarot-Spektrum

arbeiten, dem menschlichen

Betrachter ein visuelles Bild

zeigen, ohne das Bild in ein

elektronisches Signal für

Fernsehschirmdarstellung

umzuwandeln und die das Bild weder

photographisch, noch elektronisch

noch durch andere Mittel

aufzeichnen oder speichern können.

```

```

```

d)

besondere unterstützende

```

Bauteile für optische Sensoren

wie folgt:

```

1.

raumfahrtqualifizierte

```

Kryokühler;

```

2.

nichtraumfahrtqualifizierte

```

Kryokühler wie folgt:

```

a)

mit geschlossenem Kreislauf

```

mit einer spezifizierten

mittleren Ausfallszeit

(MTTF) oder einem mittleren

Ausfallsabstand (MTBF) von

mehr als 2 500 Stunden;

```

b)

selbstregelnde Joule-

```

Thomson-(JT)-Minikühler für

Bohrungsdurchmesser von

weniger als 8 mm;

```

3.

optische Meßfasern:

```

```

a)

speziell gefertigt,

```

zusammengesetzt oder in

Struktur oder durch

Beschichtung abgeändert, um

akustisch, thermisch,

inertial, elektromagnetisch

oder für atomare Strahlung

empfindlich zu werden; oder

```

b)

in der Struktur abgeändert,

```

um eine Schwebungslänge von

weniger als 50 mm (hohe

Doppelbrechung) zu

erreichen.

6A03 Kameras 6N02 Kameraausrüstung wie folgt:

```

a)

Meßkameras wie folgt: a) mechanische Drehspiegelkameras

```

```

1.

Hochgeschwindigkeits- wie folgt und besonders

```

Filmaufnahmekameras mit jedem konstruierte Bestandteile

Filmformat von 8 mm bis hierfür:

einschließlich 16 mm, bei denen 1. Bildkameras mit einer

der Film während der gesamten Aufnahmegeschwindigkeit von

Aufzeichnungszeit kontinuierlich mehr als

bewegt wird, und die geeignet 225 000 Einzelbildern/s,

sind, mit 2. Streakkameras mit

Aufnahmegeschwindigkeiten von Aufzeichnungsgeschwindig-

mehr als 13 150 Einzelbildern/s keiten größer als

aufzuzeichnen; 0,5 mm/mys;

```

```

```

```

ANMERKUNG: ANMERKUNG:

Nummer 6A03.a.1 erfaßt keine Die besonders konstruierten

Filmaufnahmekameras für normale Bestandteile schließen

zivile Zwecke. Elektronikbaugruppen zur

----------------------------------- Synchronisation und

```

2.

mechanische Rotationsbaugruppen (bestehend

```

Hochgeschwindigkeitskameras, bei aus Antriebsmotoren, Spiegeln

denen sich der Film nicht und Lagern) ein.

bewegt, und die geeignet sind, ---------------------------------

mit Bildfrequenzen von mehr als b) elektronische Streak- oder

1 000 000 Bildern bei voller Bildkameras und

Bildhöhe eines 35-mm-Films oder Elektronenröhren wie folgt:

mit proportional kleineren 1. Streakkameras mit einer

Geschwindigkeiten für größere Zeitauflösung

Bildhöhen aufzuzeichnen; kleiner/gleich 50 ns und

```

3.

mechanische oder elektronische Streak-Elektronenröhren

```

Streakkameras mit hierfür,

Aufzeichnungsgeschwindigkeiten 2. elektronische Bildkameras

von mehr als 10 mm/mys; (oder Bildkameras mit

```

4.

elektronische Bildkameras mit elektronischem Verschluß)

```

einer Bildfrequenz von mehr als mit einer

1 000 000 Bildern; Bild-Belichtungszeit

```

5.

elektronische Kameras mit beiden

```

kleiner/gleich 50 ns,

folgenden Merkmalen:

```

a)

einer elektronischen 3. Aufnahmeröhren und

```

Verschlußzeit Halbleiter-Bildsensoren für

(Ausblendfähigkeit) von weniger die Verwendung in Kameras,

als 1 mys je Vollbild; und die von Nummer b.2 erfaßt

```

b)

einer Ausgabezeit, die eine werden, wie folgt:

```

Bildgeschwindigkeit von mehr als a) Bildverstärkerröhren mit

125 vollen Einzelbildern/s kleiner Brennweite, die

erlaubt; eine Photokathode mit

```

b)

bilddarstellende Kameras wie durchsichtigem

```

folgt: leitfähigem Belag haben,

zur Verkleinerung des

Photokathoden-

Flächenwiderstands,

```

b)

Gate-SIT-(silicon

```

intensifier target)-

Vidicon-Röhren, bei

denen ein schnelles

System das Steuern der

Photoelektronen von der

Photokathode ermöglicht,

ehe sie auf die

SIT-Platte auftreffen,

```

```

```

c)

elektrooptische Kerr-

```

ANMERKUNG: oder Pockels-Zellen-

Nummer 6A03.b erfaßt keine Verschlüsse,

Fernseh- oder Videokameras, die d) Bildröhren und

speziell für Fernseh-Rundfunk Halbleiter-Bildsensoren,

entwickelt sind. die eine Schnellbild-

----------------------------------- Abtastzeit von weniger

```

1.

Videokameras mit als 50 ns haben und

```

Halbleiter-Sensoren und mit besonders konstruiert

einem der folgenden Merkmale: sind für Kameras, die

```

a)

mehr als 4 x 10 hoch 6 aktiven von Nummer b.2 erfaßt

```

Pixel/Halbleiter-Sensoranordnung werden;

für Monochromkameras c) strahlungsfeste TV-Kameras,

(Schwarz-Weiß-Kameras); besonders konstruiert oder

```

b)

mehr als 4 x 10 hoch 6 aktiven ausgelegt als unempfindlich

```

Pixel/Halbleiter-Sensoranordnung gegen Strahlungsbelastungen

für Farbkameras mit drei größer als 5 x 10 hoch 6 Rad

eingebauten (Si) ohne betriebsbedingten

Halbleiter-Sensoranordnungen; Qualitätsverlust, und besonders

oder konstruierte Linsen hierfür.

```

c)

mehr als 12 x 10 hoch 6 aktiven

```

Pixel für Halbleiter-

Sensoranordnung-Farbkameras mit

einer eingebauten

Halbleiter-Sensoranordnung;

```

2.

Scanning-Kameras oder

```

Scanning-Kamerasysteme:

```

a)

mit linearen

```

Detektoranordnungen mit mehr

als

8 192 Elementen/Anordnung;

und

```

b)

mit mechanischer Abtastung

```

in eine Richtung;

```

3.

mit eingebauten

```

Bildverstärkern, die in Nummer

6A02.a.2.a erfaßt sind;

```

4.

mit eingebauten

```

Brennebenen-Arrays, die in

Nummer 6A02.a.3 erfaßt sind.

6A04 Optik

```

a)

Optische Spiegel (Reflektoren)

```

wie folgt:

```

1.

verformbare Spiegel mit

```

kontinuierlichen oder

Multielement-Oberflächen und

speziell entwickelte Bauteile

hierfür, die geeignet sind,

Teile der Spiegeloberfläche

mit Frequenzen von mehr als

100 Hz dynamisch

nachzujustieren;

```

2.

leichte monolithische Spiegel

```

mit einer durchschnittlichen

Äquivalenzdichte von weniger

als 30 kg/m2 und einem

Gesamtgewicht vom mehr als

10 kg;

```

3.

leichte zusammengesetzte -

```

oder Schaum-Spiegelstrukturen

mit einer durchschnittlichen

Äquivalenzdichte von weniger

als 30 kg/m2 und einem

Gesamtgewicht von mehr als

2 kg;

```

4.

Spiegel zum Lenken optischer

```

Strahlen mit mehr als 100 mm

Durchmesser oder

Hauptachsenlänge mit einer

Steuerbandbreite von mehr als

100 Hz;

```

b)

Optische Bauteile, hergestellt

```

aus Zinkselenid (ZnSe) oder

Zinksulfid (ZnS) zur Übertragung

im Wellenlängenbereich von über

3 000 nm bis höchstens 25 000 nm

und mit einem der folgenden

Merkmale:

```

1.

mehr als 100 cm3 Volumen; oder

```

```

2.

mit mehr als 80 mm Durchmesser

```

oder Hauptachsenlänge und

20 mm Dicke (Tiefe);

```

c)

raumfahrtqualifizierte Bauteile

```

für optische Systeme wie folgt:

```

1.

leichtgewichtig, mit weniger

```

als 20% Äquivalenzdichte

verglichen mit einem festen

Rohling mit der gleichen

Apertur und Dicke;

```

2.

Substrate, Substrate mit

```

Oberflächenbeschichtungen

(Einzel- oder Mehrlagen,

metallisch oder dielektrisch,

leitfähig, halbleitend oder

isolierend) oder mit

Schutzfilmen;

```

3.

Segmente oder Baugruppen aus

```

Spiegeln, entwickelt zur

Montage im Weltraum in ein

optisches System, mit einer

Sammelapertur gleich oder

größer als von einer

Einzeloptik mit 1 m

Durchmesser;

```

4.

gefertigt aus

```

zusammengesetzten Materialien

mit einem linearen thermischen

Ausdehnungskoeffizienten

gleich oder kleiner als 5 x 10

hoch -6 in jeder

Koordinatenrichtung;

```

d)

Optische Filter wie folgt:

```

```

1.

für Wellenlängen größer als

```

250 nm, bestehend aus

optischen

Mehrlagen-Beschichtungen und

mit einem der folgenden

Merkmale:

```

a)

Bandbreiten gleich oder

```

kleiner als 1 nm volle

Breite bei halber Intensität

(FWHI) und einer

Spitzenübertragung von 90%

oder mehr; oder

```

b)

Bandbreiten gleich oder

```

weniger als 0,1 nm FWHI und

einer Spitzenübertragung von

50% oder mehr;

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 6A04.d.1 erfaßt keine

optischen Filter mit festen

Luftspalten oder Lyot-Filtern.

```

```

```

2.

für Wellenlängen größer als

```

250 nm und mit allen folgenden

Merkmalen:

```

a)

abstimmbar über einen

```

Wellenlängenbereich von

500 nm oder mehr;

```

b)

einem optischen

```

Momentanbandpaß von 1,25 nm

oder weniger;

```

c)

Wellenlänge

```

wiedereinstellbar innerhalb

von 0,1 ms mit einer

Genauigkeit von 1 nm oder

besser innerhalb des

abstimmbaren

Wellenlängenbereiches; und

```

d)

einer

```

Einzelereignis-Übertragung

von 91% oder mehr;

```

3.

Optische Opazitätsschalter

```

(Filter) mit einem Sehfeld von

30 Grad oder weiter und einer

Ansprechzeit gleich oder

kleiner als 1 ns;

```

e)

Optische Steuergeräte wie

```

folgt:

```

1.

speziell entwickelt zur

```

Erhaltung der

Oberflächengestalt oder

-ausrichtung der

raumfahrtqualifizierten

Bauteile, die in

Nummer 6A04.c.1 oder c.3

erfaßt sind;

```

2.

mit Steuerungs-, Nachführ-,

```

Stabilisierungs- oder

Resonatorjustierbandbreiten

gleich oder größer als 100 Hz

und einer Genauigkeit von

10 myrad oder weniger;

```

3.

Kardanringe mit einer

```

maximalen Schwenkung von mehr

als 5 Grad, einer Bandbreite

gleich oder größer als 100 Hz

und mit einem der folgenden

Merkmale:

```

a)
  1. mit einem Durchmesser

```

oder einer Hauptachsenlänge

von mehr als 0,15 m bis

höchstens 1 m;

```

2.

geeignet für

```

Winkelbeschleunigungen von

mehr als 2 rad/s2; und

```

3.

mit Winkelfehlern gleich

```

oder kleiner als

200 myrad/s2; oder

```

b)
  1. mit mehr als 1 m

```

Durchmesser oder

Hauptachsenlänge;

```

2.

geeignet für

```

Winkelbeschleunigungen von

mehr als 0,5 rad/s2; und

```

3.

mit Winkelfehlern gleich

```

oder kleiner als

200 myrad;

```

4.

speziell entwickelt zur

```

Erhaltung der Justierung

von phasengesteuerten

Anordnungen oder

phasengesteuerten

Segmentspiegelsystemen,

die aus Spiegeln mit einem

Segmentdurchmesser oder

einer Hauptachsenlänge von

1 m oder mehr bestehen;

```

f)

Fluoridfaserkabel oder

```

Lichtwellenleiterfasern hierfür

mit einer Dämpfung von weniger

als 4 dB/km im

Wellenlängenbereich von über

1 000 nm bis höchstens 3 000 nm.

6A05 Laser, Bauteile und optische 6N03 Laser, Laserverstärker und

Geräte, wie folgt: Oszillatoren wie folgt:

```

```

ANMERKUNGEN: a) Argonionen-Laser mit einer

```

1.

Impulslaser umfassen auch mittleren Ausgangsleistung

```

solche, die in einem CW-Modus größer als 40 W und einer

(Dauerstrichmodus) mit Betriebswellenlänge zwischen

überlagerten Impulsen laufen. 400 nm und 515 nm;

```

2.

Stoßerregte Laser umfassen auch b) abstimmbare, gepulste

```

jene, die in einem Farbstoff-(Dye)Oszillatoren

kontinuierlich erregten Modus für Single-Mode-Betrieb mit

mit überlagerter Stoßerregung einer Nennausgangsleistung

laufen. größer als 1 W, einer

```

3.

Der Embargostatus von Pulsfrequenz größer als 1 kHz,

```

Raman-Lasern richtet sich nach einer Pulsdauer kleiner als

den Parametern der 100 ns und einer Wellenlänge

Pumpenquellenlaser. zwischen 300 nm und 800 nm;

Pumpenquellenlaser können alle c) abstimmbare, gepulste

nachstehend beschriebenen Laser Farbstoff-(Dye)Laserverstärker

sein. und - Oszillatoren (ausgenommen

```

```

```

a)

Gaslaser wie folgt: Single-Mode-Oszillatoren) mit

```

```

1.

Excimerlaser mit einem der einer Nennausgangsleistung

```

folgenden Merkmale: größer als 30 W, einer

```

a)

einer Ausgangswellenlänge von Pulsfrequenz größer als 1 kHz,

```

nicht mehr als 150 nm; und: einer Pulsdauer kleiner als

```

1.

einer Ausgangsenergie von mehr 100 ns und einer Wellenlänge

```

als 50 mJ/Impuls; oder zwischen 300 nm und 800 nm;

```

2.

einer mittleren oder d) gepulste CO2-Laser mit einer

```

CW-Ausgangsleistung von mehr als Pulsfrequenz größer als 250 Hz,

1 W; einer Nennausgangsleistung

```

b)

einer Ausgangswellenlänge von größer als 500 W, einer

```

über 150 nm bis höchstens 190 nm Pulsdauer kleiner als 200 ns

und: und einer Betriebswellenlänge

```

1.

einer Ausgangsenergie von mehr zwischen 9 mym und 11 mym;

```

als 1,5 J/Impuls; oder e) Para-Wasserstoff-Raman-Shifter,

```

2.

einer mittleren oder entwickelt für

```

CW-Ausgangsleistung von mehr als Ausgangswellenlängen von 16 mym

120 W; und einer Pulsfrequenz größer

als 250 Hz.

```

c)

einer Ausgangswellenlänge von

```

über 190 nm bis höchstens

360 nm; und:

```

1.

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 10 J/Impuls; oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von

mehr als 500 W; oder

```

d)

einer Ausgangswellenlänge

```

von über 360 nm; und

```

1.

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 1,5 J/Impuls;

oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von

mehr als 30 W;

```

2.

Metalldampflaser wie folgt:

```

```

a)

Kupfer-(Cu)-Laser mit einer

```

mittleren oder

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 20 W;

```

b)

Gold-(Au)-Laser mit einer

```

mittleren oder

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 5 W;

```

c)

Natrium-(Na)-Laser mit einer

```

mittleren oder

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 5 W;

```

d)

Barium-(Ba)-Laser mit einer

```

mittleren oder

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 2 W;

```

3.

Kohlenmonoxid-(CO)-Laser mit

```

entweder:

```

a)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 2 J/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 5 kW; oder

```

b)

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 5 kW;

```

4.

Kohlendioxid-(C02)-Laser mit

```

einem der folgenden Merkmale:

```

a)

einer CW-Ausgangsleistung

```

von mehr als 10 kW;

```

b)

einer gepulsten

```

Ausgangsstrahlung mit einer

Impulsdauer von mehr als

10 mys; und:

```

1.

einer mittleren

```

Ausgangsleistung von mehr

als 10 kW; oder

```

2.

einer Spitzenleistung von

```

mehr als 100 kW; oder

```

c)

einer gepulsten

```

Ausgangsstrahlung mit einer

Impulsdauer gleich oder

kleiner als 10 mys; und:

```

1.

einer Impulsenergie von

```

mehr als 5 J/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 2,5 kW; oder

```

2.

einer mittleren

```

Ausgangsleistung von mehr

als 2,5 kW;

```

5.

Chemische Laser wie folgt:

```

```

a)

Wasserstofffluorid-(HF)-

```

Laser;

(Anm.: richtig: Wasserstoffluorid)

```

b)

Deuteriumfluorid-(DF)-Laser;

```

```

c)

Transferlaser:

```

```

1.

Sauerstoff-Jod-(O2-I)-

```

Laser;

```

2.

Deuterium-Fluorid-

```

Kohlendioxid-(DF-CO2)-

Laser;

```

6.

Gasentladungs- und Ionen-

```

Laser, zB Krypton-Ionen- oder

Argon-Ionen-Laser, mit

entweder:

```

a)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 1,5 J/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 50 W; oder

```

b)

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 50 W;

```

7.

Andere Gaslaser, außer

```

Stickstoff-Laser, mit einem

der folgenden Merkmale:

```

a)

einer Ausgangswellenlänge

```

von nicht mehr als 150 nm

und:

```

1.

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 50 mJ/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 1 W; oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von

mehr als 1 W;

```

b)

einer Ausgangswellenlänge

```

von mehr als 150 nm bis

höchstens 800 nm; und:

```

1.

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 1,5 J/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 30 W; oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von

mehr als 30 W;

```

c)

einer Ausgangswellenlänge

```

von mehr als 800 nm bis

höchstens 1 400 nm; und:

```

1.

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 0,25 J/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 10 W; oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von

mehr als 10 W; oder

```

d)

einer Ausgangswellenlänge

```

von mehr als 1 400 nm und

einer mittleren oder

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 1 W;

```

b)

Halbleiter-Laser wie folgt:

```

```

```

ANMERKUNG:

Halbleiter-Laser werden allgemein

als Laserdioden bezeichnet.

ANMERKUNG:

Der Erfassungsstatus von

Halbleiter-Lasern, speziell

entwickelt für andere Geräte

richtet sich nach dem

Erfassungsstatus der anderen

Geräte.

```

```

```

1.

Einzelne Single Mode

```

Halbleiter-Laser mit:

```

a)

einer mittleren

```

Ausgangsleistung von mehr

als 100 mW; oder

```

b)

einer Wellenlänge von mehr

```

als 1 050 nm;

```

2.

Einzelne Single-Mode-

```

Halbleiter-Laser oder Arrays

aus einzelnen

Halbleiter-Lasern mit:

```

a)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 500 myJ/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 10 W;

```

b)

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 10 W; oder

```

c)

einer Wellenlänge von mehr

```

als 1 050 nm;

```

c)

Festkörper-Laser wie folgt:

```

```

1.

abstimmbare Laser mit einem

```

der folgenden Merkmale:

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 6A05.c.1 umfaßt auch

Titan-Saphir-(Ti: Al203), Thulium -

YAG (Tm: YAG), Thulium - YSGG (Tm:

YSGG), Alexandrit (Cr: BeAl204) und

Farbpunkt-Laser.

```

```

```

a)

einer Ausgangswellenlänge

```

kleiner als 600 nm; und:

```

1.

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 50 mJ/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 1 W; oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von

mehr als 1 W;

```

b)

einer Ausgangswellenlänge

```

von 600 nm oder mehr bis

höchstens 1 400 nm; und:

```

1.

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 1 J/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 20 W; oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von

mehr als 20 W; oder

```

c)

einer Ausgangswellenlänge

```

von mehr als 1 400 nm; und:

```

1.

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 50 mJ/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 1 W; oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von

mehr als 1 W;

```

2.

nicht abstimmbare Laser wie

```

folgt:

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 6A05.c.2 erfaßt

Atomübergangs-Festkörper-Laser.

```

```

```

a)

Rubin-Laser mit einer

```

Ausgangsenergie von mehr als

20 J/Impuls;

```

b)

Neodym-Laser wie folgt:

```

```

1.

gütegeschaltete Laser

```

(Q-switched) mit:

```

a)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 20 J bis

höchstens 50 J/Impuls und

einer mittleren

Ausgangsleistung von mehr

als 10 W; oder

```

b)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 50 J/Impuls;

```

2.

nichtgütegeschaltete Laser

```

(non-Q-switched) mit:

```

a)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 50 J bis

höchstens 100 J/Impuls und

einer mittleren

Ausgangsleistung von mehr

als 20 W; oder

```

b)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 100 J/Impuls;

```

c)

Neodym-dotierte Laser (andere

```

Laser als Glas), wie folgt,

mit einer Ausgangswellenlänge

von mehr als 1 000 nm bis

höchstens 1 100 nm:

(Bezüglich Neodym-dotierte

Laser (andere Laser als

Glas) mit einer

Ausgangswellenlänge von

nicht mehr als 1 000 nm oder

mehr als 1 100 nm siehe

Nummer 6A05.c.2.d).

```

1.

gepulst angeregte,

```

phasenverriegelte,

gütegeschaltete

(Q-switched) Laser mit

einer Impulsdauer von

weniger als 1 ns; und:

```

a)

einer Spitzenleistung

```

von mehr als 5 GW;

```

b)

einer mittleren

```

Ausgangsleistung von mehr

als 10 W; oder

```

c)

einer Impulsenergie von

```

mehr als 0,1 J;

```

2.

gepulst angeregte,

```

gütegeschaltete

(Q-switched) Laser mit

einer Impulsdauer gleich

oder größer als 1 ns und:

```

a)

einem transversalen

```

Einmoden-Ausgang mit:

```

1.

einer Spitzenleistung von

```

mehr als 100 MW;

```

2.

einer mittleren

```

Ausgangsleistung von mehr

als 20 W; oder

```

3.

einer Impulsenergie von mehr

```

als 2 J; oder

```

b)

einem transversalen

```

Mehrmoden-Ausgang mit:

```

1.

einer Spitzenleistung von

```

mehr als 200 MW;

```

2.

einer mittleren

```

Ausgangsleistung von mehr

als 50 W; oder

```

3.

einer Impulsenergie von mehr

```

als 2 J;

```

3.

gepulst angeregte,

```

nicht-gütegeschaltete

(non-Q-switched) Laser

mit:

```

a)

einem transversalen

```

Einmoden-Ausgang mit:

```

1.

einer Spitzenleistung von

```

mehr als 500 kW; oder

```

2.

einer mittleren

```

Ausgangsleistung von mehr

als 150 W; oder

```

b)

einem transversalen

```

Mehrmoden-Ausgang mit:

```

1.

einer Spitzenleistung von

```

mehr als 1 MW; oder

```

2.

einer mittleren

```

Ausgangsleistung von mehr

als 500 W;

```

4.

kontinuierlich angeregte

```

Laser mit:

```

a)

einem transversalen

```

Einmoden-Ausgang mit:

```

1.

einer Spitzenleistung von

```

mehr als 500 kW; oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 150 W; oder

```

b)

einem transversalen

```

Mehrmoden-Ausgang mit:

```

1.

einer Spitzenleistung von

```

mehr als 1 MW; oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 500 W;

```

d)

andere nichtabstimmbare

```

Laser, mit einem der

folgenden Merkmale:

```

1.

einer Wellenlänge von

```

weniger als 150 nm; und:

```

a)

einer Ausgangsenergie von mehr

```

als 50 mJ/Impuls und eine

Spitzenleistung von mehr als 1

W; oder

```

b)

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 1 W;

```

2.

einer Wellenlänge von

```

150 nm oder mehr bis

höchstens 800 nm; und:

```

a)

einer Ausgangsenergie von mehr

```

als 1,5 J/Impuls und einer

Spitzenleistung von mehr als

30 W; oder

```

b)

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 30 W;

```

3.

einer Wellenlänge von mehr

```

als 800 nm bis höchsten

1 400 nm, wie folgt:

```

a)

gütegeschaltete Laser mit:

```

```

1.

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 0,5 J/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 50 W; oder

```

2.

einer mittleren

```

Ausgangsleistung von mehr

als:

```

a)

10 W für Einmoden-Laser;

```

```

b)

30 W für Mehrmoden-Laser;

```

```

b)

nicht-gütegeschaltete Laser

```

mit:

```

1.

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 2 J/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 50 W; oder

```

2.

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 50 W; oder

```

4.

einer Wellenlänge von mehr

```

als 1 400 nm; und:

```

a)

einer Ausgangsenergie von mehr

```

als 100 mJ/Impuls und einer

Spitzenleistung von mehr als 1

W; oder

```

b)

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 1 W;

```

d)

Farbstofflaser oder andere

```

flüssige Laser mit einem der

folgenden Merkmale:

```

1.

einer Wellenlänge von weniger

```

als 150 nm; und:

```

a)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 50 mJ/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 1 W; oder

```

b)

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 1 W;

```

2.

einer Wellenlänge von 150 nm

```

oder mehr bis höchstens

800 nm; und:

```

a)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 1,5 J/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 20 W;

```

b)

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 20 W; oder

```

c)

einem longitudinalen

```

Einmoden-Impulsoszillator

mit einer mittleren

Ausgangsleistung von mehr

als 1 W und einer

Folgefrequenz von mehr als 1

kHz, wenn die Impulsdauer

kleiner als 100 ns beträgt;

```

3.

einer Wellenlänge von mehr als

```

800 nm bis höchstens 1 400 nm

und:

```

a)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 0,5 J/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 10 W; oder

```

b)

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 10 W; oder

```

4.

einer Wellenlänge von mehr als

```

1 400 nm; und:

```

a)

einer Ausgangsenergie von

```

mehr als 100 mJ/Impuls und

einer Spitzenleistung von

mehr als 1 W; oder

```

b)

einer mittleren oder

```

CW-Ausgangsleistung von mehr

als 1 W;

```

e)

Frei-Elektron-Laser;

```

```

f)

Bauteile wie folgt:

```

```

1.

Spiegel, die entweder durch

```

aktive Kühlung oder

Wärmehohlleiter-Kühlung

gekühlt werden;

```

```

ANMERKUNG:

Aktive Kühlung ist eine

Kühltechnik für optische Bauteile,

die fließende Flüssigkeiten

innerhalb der Schicht unter der

Oberfläche (nominal weniger als

1 mm unter der optischen

Oberfläche) des Optikbauteils

verwendet, um Wärme von der Optik

abzuführen.

```

```

```

2.

optische Spiegel oder

```

durchlässige oder teilweise

durchlässige optische oder

elektro-optische Bauteile,

speziell entwickelt zur

Verwendung mit vom Embargo

erfaßten Lasern;

```

g)

optische Geräte wie folgt: 6N04 Interferometer zum Messen

```

```

1.

dynamische von Geschwindigkeiten größer

```

Wellenfront-(Phasen)-Meßgeräte, als 1 km/s in Zeitintervallen

die geeignet sind, mindestens kleiner als 10 mys (zB VISAR's,

50 Positionen auf einer Doppler Laser Interferometer

Strahlenwellenfront abzubilden, (DLI's)).

mit:

```

a)

Bildfrequenzen gleich oder

```

größer als 100 Hz und einer

Phasendiskrimination von

mindestens 5% der

Wellenlänge des Strahls;

oder

```

b)

Bildfrequenzen gleich oder

```

größer als 1 000 Hz und

einer Phasendiskrimination

von mindestens 20 % der

Wellenlänge des Strahls;

```

2.

Laser-Diagnosegeräte, die

```

geeignet sind,

Winkelstrahl-Lenkungsfehler

von Super High Power Laser

(SHPL)-Systemen von gleich

oder weniger als 10 myrad zu

messen;

```

3.

optische Geräte, Baugruppen

```

oder Bauteile, speziell

entwickelt für SHPL-Systeme

mit phasengesteuerter

Anordnung für kohärente

Strahlenkombination bis zu

einer Genauigkeit von

Lambda/10 auf der bezeichneten

Wellenlänge oder von 0,1 mym,

je nachdem welcher Wert der

kleinere ist;

```

4.

Projektionsteleskope, speziell

```

entwickelt zur Verwendung mit

SHPL-Systemen.

6A06 Magnetometer, magnetische

Neigungsmesser, eigenmagnetische

Neigungsmesser und

Kompensationssysteme sowie

speziell entwickelte Bauteile

hierfür, wie folgt:

```

a)

Magnetometer mit

```

supraleitfähiger, optisch

gepumpter oder nuklearer

Präzessionstechnologie

(Proton/Overhauser-Technologie),

mit einem Rauschpegel

(Empfindlichkeit) niedriger

(besser) als 0,05 nT

rms/Quadratwurzel Hz;

```

b)

Induktionsspulen-Magnetometer

```

mit einem Rauschpegel

(Empfindlichkeit) niedriger

(besser) als:

```

1.

0,05 nT rms/Quadratwurzel Hz

```

bei Frequenzen von weniger als

1 Hz;

```

2.

1 x 10 hoch -3 nT

```

rms/Quadratwurzel Hz bei

Frequenzen von 1 Hz oder mehr

bis höchstens 10 Hz; oder

```

3.

1 x 10 hoch -4 nT

```

rms/Quadratwurzel Hz bei

Frequenzen von mehr als 10 Hz;

```

c)

Lichtwellenleiter-Magnetometer

```

mit einem Rauschpegel

(Empfindlichkeit) niedriger

(besser) als 1 nT

rms/Quadratwurzel Hz;

```

d)

Magnetische Neigungsmesser, mit

```

mehreren Magnetometern, die in

Nummer 6A06.a, b oder c erfaßt

sind;

```

e)

eigenmagnetische

```

Lichtwellenleiter-Neigungsmesser

mit einem Rauschpegel

(Empfindlichkeit) des

magnetischen Neigungsfeldes

niedriger (besser) als 0,3 nT/m

rms/Quadratwurzel Hz;

```

f)

eigenmagnetische Neigungsmesser,

```

die nicht die

Lichtwellenleiter-Technologie

einsetzen und einen Rauschpegel

(Empfindlichkeit) des

magnetischen Neigungsfeldes

niedriger (besser) als

0,015 nT/m rms/Quadratwurzel Hz

besitzen;

```

g)

magnetische Kompensationssysteme

```

für magnetische Sensoren,

entwickelt für einen Einsatz auf

mobilen Plattformen;

```

h)

supraleitfähige

```

elektromagnetische Sensoren mit

Bauteilen, die aus

supraleitfähigen Materialien

gefertigt sind:

```

1.

entwickelt für einen Betrieb

```

bei Temperaturen unter der

kritischen Temperatur von

mindestens einem ihrer

supraleitfähigen Bestandteile

(einschließlich

Josephson-Effekt-Geräte oder

supraleitfähige

Quanten-Interferenz-Geräte

(SQUIDS);

```

2.

entwickelt zum Messen

```

elektromagnetischer

Feldschwankungen auf

Frequenzen von 1 kHz oder

weniger, und:

```

3.

mit einem der folgenden

```

Merkmale:

```

a)

mit integrierten

```

Dünnschicht-SQUIDS mit einer

Mindestgröße von weniger als

2 mym und mit zugehörigen

Eingangs- und Ausgangs-

Kopplungsschaltungen;

```

b)

entwickelt für einen Betrieb

```

bei einer Magnetfeld-

Anstiegsgeschwindigkeit von

mehr als 1 x 10 hoch 6

Induktionsflußquanten/s;

```

c)

entwickelt, um ohne

```

magnetische Abschirmung im

Erdmagnetfeld arbeiten zu

können; oder

```

d)

mit einem

```

Temperaturkoeffizienten von

weniger (kleiner) als 0,1

Induktionsflußquantum/K.

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 6A06 erfaßt keine für

biomagnetische Messungen zu

medizinischen Zwecken speziell

entwickelte Instrumente, sofern sie

keine nichteingebetteten Sensoren,

wie sie in Nummer 6A06.h erfaßt

sind, enthalten.

```

```

6A07 Schwerkraftmesser 6R02 Schweremesser (Gravimeter),

(Gravimeter) und Schwerkraft-Gradiometer und

Schwerkraft-Gradiometer wie speziell konstruierte

folgt. Komponenten dafür, konstruiert

```

a)

Schwerkraftmesser zur Verwendung oder modifiziert für den

```

am Boden mit einer statischen Lufteinsatz oder die Verwendung

Genauigkeit von weniger (besser) in der Marine, mit einer

als 10 mygal, ausgenommen statischen oder operationellen

Gravitationsmesser des Genauigkeit von 7 x 10 hoch -6

Quartzelement-Typs (Worden-Typ); m/sec2 (0,7 mgal*)) oder

```

b)

Schwerkraftmesser für mobile besser, mit einer

```

Plattformen für Boden, Marine, Einschwingzeit für die

U-Boote, Luft- oder Raumfahrt Daueraufzeichnung von zwei

mit: Minuten oder weniger.

```

```

*) Einheit für Beschleunigung)

```

1.

einer statischen Genauigkeit

```

von weniger (besser) als

0,7 mgal; und

```

2.

einer Betriebsgenauigkeit von

```

weniger (besser) als

0,7 mgal mit einer

Aufzeichnungszeit im

stabilisierten Zustand von

weniger als 2 Minuten bei

jeder Kombination von

begleitenden

Korrekturausgleichen und

Bewegungseinflüssen;

```

c)

Schwerkraft-Gradiometer.

```

6A08 Radarsysteme, -geräte und

-baugruppen mit einem der

folgenden Merkmale sowie

speziell entwickelte Bauteile

hierfür:

```

```

ANMERKUNG:

Nummer 6A08 erfaßt nicht:

```

a)

Rundsicht-Sekundärradar (SSR);

```

```

b)

Eisenbahnradar zur

```

Kollisionsverhütung;

```

c)

Anzeigen und Monitore zur

```

Luftverkehrsüberwachung, die

nicht mehr als

12 Auflösungselemente/mm

besitzen.

```

```

```

a)

mit Betriebsfrequenzen von

```

40 GHz bis 230 GHz und mit einer

mittleren Ausgangsleistung von

mehr als 100 mW;

```

b)

mit einer abstimmbaren

```

Bandbreite von mehr als +-6,25%

der Mittenbetriebsfrequenz;

```

```

ANMERKUNG

Die Mittenbetriebsfrequenz ist

gleich der Hälfte der Summe aus der

höchsten plus der niedrigsten

spezifizierten Betriebsfrequenz.

```

```

```

c)

geeignet, simultan auf mehr als

```

zwei Trägerfrequenzen zu

arbeiten;

```

d)

geeignet, mit künstlicher

```

Apertur (SAR), inverser

künstlicher Apertur (ISAR) oder

in

Schrägsicht-Flugzeugradar-Modus

(SLAR) zu arbeiten;

```

e)

mit eingebauten elektronisch

```

lenkbaren phasengesteuerten

Antennen;

```

f)

geeignet zur Höhenmessung

```

nichtzusammengehöriger Ziele;

```

```

ANMERKUNG: Nummer 6A08.f erfaßt

nicht:

```

a)

Präzisionsanflugradargeräte

```

(PAR) gemäß den ICAO-Normen;

```

b)

Meteorologische Radargeräte.

```

```

```

```

g)

speziell entwickelt für Luft- 6R03 Präzisionsverfolgungssysteme

```

und Schwebefahrzeuge (auf a) Verfolgungssysteme mit einem

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