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Verordnung vom 26. April 1993 über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (Topographienverordnung, ToV)

Geltender Text a fecha 2007-01-01

gestützt auf die Artikel 2 Absatz 2, 12 und 18 des Topographiengesetzes vom

1 (ToG) 9. Oktober 1992

2 und auf Artikel 13 des Bundesgesetzes vom 24. März 1995 über Statut und

3 Aufgaben des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum (IGEG), verordnet:

1. Abschnitt: Allgemeine Bestimmungen

Art. 1 Zuständigkeit

1 Der Vollzug der Verwaltungsaufgaben, die sich aus dem ToG ergeben, und der Vollzug dieser Verordnung sind Sache des Instituts für Geistiges Eigentum (Insti-

4 tut).

2 Ausgenommen sind der Artikel 12 ToG sowie die Artikel 16–19 dieser Verordnung, deren Vollzug der Eidgenössischen Zollverwaltung obliegt.

Art. 2 Sprache

1 5 Eingaben an das Institut müssen in einer schweizerischen Amtssprache abgefasst sein.

2 Von Beweisurkunden, die nicht in einer Amtssprache abgefasst sind, kann das Institut unter Ansetzung einer Frist eine Übersetzung sowie eine Bescheinigung ihrer Richtigkeit verlangen; werden die verlangten Unterlagen nicht beigebracht, gelten die Beweisurkunden als nicht eingereicht.

6 Art. 2 a Unterschrift

1 Eingaben müssen unterzeichnet sein.

2 Fehlt auf einer Eingabe die rechtsgültige Unterschrift, so wird das ursprüngliche Einreichungsdatum anerkannt, wenn eine inhaltlich identische und unterzeichnete Eingabe innerhalb eines Monats nach Aufforderung durch das Institut nachgereicht wird.

3 Die Anmeldung zum Registereintrag muss nicht unterzeichnet sein. Das Institut kann weitere Dokumente bestimmen, für welche die Unterschrift nicht nötig ist.

7 Art. 2 b Elektronische Kommunikation

1 Das Institut kann die elektronische Kommunikation zulassen.

2 Es legt die technischen Einzelheiten fest und veröffentlicht sie in geeigneter Weise.

8 Gebühren Art. 3 Die Gebühren, die nach dem ToG oder nach dieser Verordnung erhoben werden,

9 richten sich nach der Verordnung vom 25. Oktober 1995 über die Gebühren des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum.

2. Abschnitt: Anmeldeverfahren

Art. 4 Mehrere Anmelder und Anmelderinnen

1 Melden mehrere Personen eine Topographie an, so kann das Institut sie auffordern, eine von ihnen oder eine Drittperson als gemeinsame Vertreterin zu bezeichnen.

2 Solange trotz Aufforderung des Institutes keine Vertreterin bezeichnet ist, gilt die in der Anmeldung zuerst genannte Person als Vertreterin.

Art. 5 Unterlagen zur Identifizierung

1 Folgende Unterlagen sind zur Identifizierung und Veranschaulichung der Topographie zugelassen:

2 Zusätzlich können Datenträger, auf denen in digitalisierter Form Darstellungen einzelner Schichten von Topographien festgehalten sind, oder Computer-Ausdrucke davon sowie die Halbleitererzeugnisse selbst hinterlegt werden.

3 Die Unterlagen sind im Format DIN A4 (21×29,7 cm) oder auf dieses Format gefaltet einzureichen. Grossflächige Zeichnungen, Pläne oder Fotografien, die nicht gefaltet werden können, müssen in Zeichenrollen eingereicht werden, die höchstens 1,5 m lang und 15 cm dick sein dürfen.

4 Soweit das Institut die Unterlagen zur Identifizierung elektronisch entgegennimmt (Art. 2 b ), kann es von diesem Artikel abweichende Anforderungen festlegen; es

10 veröffentlicht diese in geeigneter Weise.

Art. 6 Unvollständige Anmeldung

1 Bei unvollständiger oder mangelhafter Anmeldung räumt das Institut dem Anmelder oder der Anmelderin eine Frist zur Vervollständigung der Anmeldung ein.

2 Ist der Mangel nach Ablauf der Frist nicht behoben, tritt das Institut auf die Anmeldung nicht ein.

3. Abschnitt: Das Topographienregister

Art. 7 Registerinhalt

Das Institut trägt die folgenden Angaben in das Register ein:

11 g. das Datum der Veröffentlichung;

Art. 8 Aktenheft

Das Institut führt für jede Topographie ein Aktenheft.

Art. 9 Fabrikationsoder Geschäftsgeheimnis

1 Zu den Akten gegebene Beweisurkunden, die ein Fabrikationsoder Geschäftsgeheimnis offenbaren, werden auf Antrag ausgesondert.

2 Unterlagen, die nach Artikel 5 zur Identifizierung dienen, dürfen nicht in ihrer Gesamtheit ausgesondert werden.

3 Auf ausgesonderte Urkunden wird im Aktenheft hingewiesen.

4 Über die Einsicht in ausgesonderte Urkunden entscheidet das Institut nach Anhörung der an der Topographie Berechtigten, die im Register eingetragen sind.

Art. 10 Bescheinigung

Nach der Eintragung stellt das Institut eine entsprechende Bescheinigung aus.

12 Art. 11 Veröffentlichung

1 Das Institut veröffentlicht die im Register eingetragenen Angaben.

2 Es bestimmt das Publikationsorgan.

3 Auf Antrag und gegen Kostenersatz erstellt es Papierkopien von ausschliesslich

13 elektronisch veröffentlichten Daten.

4 14 ...

Art. 12 Änderung und Löschung von Einträgen

1 2 15 − ...

3 Änderungen, die auf einem vollstreckbaren Gerichtsurteil oder auf einer Vollstreckungsmassnahme beruhen, sowie Verfügungsbeschränkungen von Gerichten und Vollstreckungsbehörden werden gegen Vorlage einer Kopie des Urteils mit

16 Bescheinigung der Rechtskraft eingetragen.

4 Änderungen werden im Aktenheft vorgemerkt, im Register eingetragen und vom Institut bescheinigt.

5 17 ...

Art. 13 Berichtigung

1 Fehlerhafte Eintragungen werden auf Antrag der an der Topographie Berechtigten unverzüglich berichtigt.

2 Beruht der Fehler auf einem Versehen des Institutes, so erfolgt die Berichtigung von Amtes wegen.

18 Art. 14 Registerauszüge Das Institut erstellt auf Antrag Auszüge aus dem Register.

Art. 15 Aufbewahrung und Rückgabe

1 Das Institut bewahrt die Akten sowie die hinterlegten Datenträger und Halbleitererzeugnisse nach der gültigen Anmeldung während 20 Jahren auf.

2 Werden die Datenträger und Halbleitererzeugnisse nach Ablauf der Aufbewahrungsfrist nicht zurückverlangt, kann sie das Institut auch ohne Antrag zurückschicken. Kann die Adresse der Berechtigten nicht ausfindig gemacht werden, so werden die hinterlegten Gegenstände zusammen mit den Akten vernichtet.

4. Abschnitt: Hilfeleistung der Zollverwaltung

19 Art. 16 Umfang Die Hilfeleistung der Zollverwaltung erstreckt sich auf die Einund Ausfuhr von Halbleitererzeugnissen, bei denen der Verdacht besteht, dass ihre Verbreitung gegen die in der Schweiz geltende Gesetzgebung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen verstösst, sowie auf die Lagerung solcher Halbleitererzeugnisse in einem Zolllager.

Art. 17 Antrag auf Hilfeleistung

1 Die Berechtigten müssen den Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzolldirektion stellen. In dringenden Fällen kann der Antrag unmittelbar beim Zollamt gestellt wer-

20 den, bei dem verdächtige Halbleitererzeugnisse einoder ausgeführt werden sollen.

2 Der Antrag gilt während zwei Jahren, wenn er nicht für eine kürzere Geltungsdauer gestellt wird. Er kann erneuert werden.

Art. 18 Zurückbehalten von Halbleitererzeugnissen

1 Behält das Zollamt Halbleitererzeugnisse zurück, so verwahrt es sie gegen Gebühr selbst oder gibt sie auf Kosten der Antragsteller oder der Antragstellerinnen einer Drittperson in Verwahrung.

2 Die Antragsteller oder die Antragstellerinnen sind berechtigt, die zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse zu besichtigen. Die zur Verfügung über die Halbleitererzeugnisse Berechtigten können an der Besichtigung teilnehmen.

3 Steht schon vor Ablauf der Frist nach Artikel 77 Absatz 2 beziehungsweise bis 21 des BG vom 9. Oktober 1992 über das Urheberrecht und verwandte Absatz 2 Schutzrechte fest, dass die Antragsteller oder Antragstellerinnen vorsorgliche Massnahmen nicht erwirken können, so werden die Halbleitererzeugnisse sogleich frei-

22 gegeben.

Art. 19 Gebühren

Die Gebühren für die Behandlung des Antrags auf Hilfeleistung sowie für die Verwahrung zurückbehaltener Halbleitererzeugnisse richten sich nach der Verordnung

23 vom 22. August 1984 über die Gebühren der Zollverwaltung.

5. Abschnitt: Inkrafttreten

Art. 20

Diese Verordnung tritt am 1. Juli 1993 in Kraft.

Fussnoten

[^1]: SR 231.2

[^2]: SR 172.010.31

[^3]: Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996 (AS 1995 5156).

[^4]: Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996 (AS 1995 5156).

[^5]: Ausdruck gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996 (AS 1995 5156). Diese Änd. ist im ganzen Erlass berücksichtigt.

[^6]: Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037).

[^7]: Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037).

[^8]: Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996 (AS 1995 5156).

[^9]: [AS 1995 5174, 1997 773]. Heute: die Gebührenordnung des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum vom 28. April 1997 (SR 232.148 ).

[^10]: Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037).

[^11]: Fassung gemäss Anhang Ziff. 1 der Designverordnung vom 8. März 2002, in Kraft seit 1. Juli 2002 (SR 232.121 ).

[^12]: Fassung gemäss Anhang Ziff. 1 der Designverordnung vom 8. März 2002, in Kraft seit 1. Juli 2002 (SR 232.121 ).

[^13]: Fassung gemäss Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037).

[^14]: Aufgehoben durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037).

[^15]: Aufgehoben durch Ziff. I der V vom 18. Okt. 2006, mit Wirkung seit 1. Jan. 2007 (AS 2006 4477).

[^16]: Fassung gemäss Ziff. I der V vom 18. Okt. 2006, in Kraft seit 1. Jan. 2007 (AS 2006 4477).

[^17]: Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037). Aufgehoben durch Ziff. I der V vom 18. Okt. 2006, mit Wirkung seit 1. Jan. 2007 (AS 2006 4477).

[^18]: Fassung gemäss Ziff. I der V vom 18. Okt. 2006, in Kraft seit 1. Jan. 2007 (AS 2006 4477).

[^19]: Fassung gemäss Ziff. I der V vom 17. Mai 1995, in Kraft seit 1. Juli 1995 (AS 1995 1779).

[^20]: Fassung gemäss Ziff. I der V vom 17. Mai 1995, in Kraft seit 1. Juli 1995 (AS 1995 1779).

[^21]: SR 231.1

[^22]: Fassung gemäss Ziff. I der V vom 17. Mai 1995, in Kraft seit 1. Juli 1995 (AS 1995 1779).

[^23]: SR 631.152.1